P turi M4 monokristalli quyosh vafli

O'sish usuli

CZ

Kristallik

Monokristalli

Etchli imtiyozli usullar（ASTM F47-88）

Supero'tkazuvchilar turi

P turi

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Bor, Galliy

-

Kislorod konsentratsiyasi [Oi]

≦8E+17 at / sm³

FTIR (ASTM F121-83)

Uglerod konsentratsiyasi [CS]

≦5E+16 / sm³

FTIR (ASTM F123-91)

Chuqurlik chuqurligi zichligi (dislokatsiya zichligi)

≦500 sm^-3

Etchli imtiyozli usullar（ASTM F47-88）

Yuzaki yo'nalish

& lt; 100> ± 3 °

Rentgen difraksiyasi usuli (ASTM F26-1987)

Psevdo kvadrat tomonlarining yo'nalishi

& lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

Rentgen difraksiyasi usuli (ASTM F26-1987)

Qarshilik

0,5-1,5 Ω sm

Gofretni tekshirish tizimi

MCLT (ozchilikni tashuvchisi muddati)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(in'ektsiya darajasi bilan: 1E15 sm^-3)

Geometriya

Kvaziy kvadrat

Gofret Yon uzunligi

161,7 ± 0,25 mm

gofretni tekshirish tizimi

Gofret diametri

-221 ± 0,25 mm

gofretni tekshirish tizimi

Qo'shni tomonlar orasidagi burchak

90° ± 0.2°

gofretni tekshirish tizimi

Qalinligi

180﹢20/﹣10 µm;

170﹢20/﹣10 µm

TTV (qalinlikning umumiy o'zgarishi)

≤27 µm

gofretni tekshirish tizimi

Kesish usuli

DW

--

Yuzaki sifati

kesilgan va tozalangan holda, hech qanday ifloslanish yo'q, (yog 'yoki surtma, barmoq izlari, sovun doglari, atala doglari, epoksi / elim doglari taqiqlanadi)

gofretni tekshirish tizimi

Kesish belgilari / qadamlar

≤ 15µm

gofretni tekshirish tizimi

Ta'zim

≤ 40 µm

gofretni tekshirish tizimi

Çözgü

≤ 40 µm

gofretni tekshirish tizimi

Chip

chuqurlik ≤0,3 mm va uzunlik ≤ 0,5 mm Maks 2 / dona; V-chip yo'q

Yalang'och ko'zlar yoki gofretni tekshirish tizimi

Mikro yoriqlar / teshiklar

Ruxsat berilmagan

gofretni tekshirish tizimi